制造業(yè)要實現高效大規(guī)模的自動化生產模式，在產線上需要使用可靠穩(wěn)定且高效的 ATE測試系統，其中，老化測試系統是電子行業(yè)中非常常見的一種 ATE。不管是元件，部件，整機還是設備都需要進行老化測試，一方面可以預測產品的壽命，同時也可以促使隱藏于產品內部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達到早期剔除失效產品的目的。 

傳統的老化方案是通過簡易的電源模塊給 DUT 提供穩(wěn)定供電，由電阻箱進行拉載，這種方案盡管可以降低設備成本，企業(yè)也需要投入更多的成本用于老化室的散熱。隨著“碳達峰、碳中和"的相關發(fā)展政策落地，傳統的老化方案還可能會導致企業(yè)耗電量過高。從性能方面來看，傳統的老化方案在模塊精度及速度、數據采樣、數據遠端訪問、測試吞吐量、維護以及可擴展性方面都不夠靈活，無法滿足類似半導體芯片老化，軌道交通控制電源模塊老化，汽車精密元器件以及車燈老化等待測物參數規(guī)格多、測試精度要求高的使用場景。 

那么，如何搭建一套高性能又高效，兼具當下和未來需求擴展的老化系統呢？選擇合適的老化測試儀器尤為關鍵。 

1） 選用緊湊型、高功率密度的老化源或老化載，提升單機柜老化吞吐量 

以 ITECH 最新雙通道直流電源 IT-M3100D 為例，僅 1/2 1U 的標準體積內，兩個通道可同時分別輸出 400W 功率，單機柜內最多可集成 80 個通道。通道相互隔離，即便單個通道出現異常，不影響整體的老化運行。不僅如此，IT-M3100D 雙通道之間支持串并聯以輕松擴展老化電壓和功率范圍，系列單機可達 100V/10A/800W 或 30V/30A/800W 的單通道輸出，滿足用戶不同規(guī)格產品老化需求。 

2） 選用具備同步功能的老化測試設備，提升批量老化參數設置效率 

在批量的老化測試中，用戶往往需要對數百個通道的老化儀器設置相同的老化參數。一般是通過軟件對每個通道依次發(fā)送相同的設置指令實現，這種方式受限于通信時間，效率低。考慮到老化應用的一致性，IT-M3100D 系列特別內置多通道同步控制功能，開啟該功能，可以將最多 8 臺 M3100D（16CH）設備級聯在一起。測試人員只需要對其中一臺進行電壓/電流的設置，其余通道自動復制，提升批量參數的設置效率。 

3）選用具備通道級聯功能的設備，可優(yōu)化數百通道老化的通信接線 

當老化的通道數高達上百通道時，通信連接將成為一個頭疼的問題，因為每個通道需要引出一根通信電纜，密密麻麻的線纜會使得通信排查變得異常困難。為幫助工程師優(yōu)化接線，IT-M3100D 系列通過通道級聯功能， PC 只需要通過一根網線連接到其中一臺電源，即可完成對 16 CH 的程控簡化了通信接線。IT-M3100D 系列 支持 CANOPEN、LXI、SCPI 等多種通訊協議。五種選配卡實現即插即用功能，提供 RS 2 3 2 、C A N、LAN、GPIB、USB_TMC、USB_VCP、RS485、外部模擬量和 IO 等多種控制方式。 

 4）選用回饋式老化設備，節(jié)省電費成本 

在老化系統集成中，采用回饋式的負載替代傳統電阻箱，可以為企業(yè)節(jié)省一大筆電費支出?；仞伿截撦d可以將從 DUT 吸收的能量逆變?yōu)榻涣麟姡S內其他用電負荷。目前針對老化應用，ITECH 提供從幾百 W 到 MW 級的回饋設備，回饋效率高可達 95%（ITM3300/IT-M3800/IT8000）。 選擇合適的老化儀器，不僅可以提升企業(yè)的老化效率，還可以提升系統穩(wěn)定性和易操作性。IT-M3100D 系列雙通道電源可廣泛使用在半導體、智能電子產品、LEN、電源等行業(yè)，